掃描電子顯微鏡（SEM）利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài)，在巖土、石墨、陶瓷及納米材料等的研究上有廣泛應用。
SEM在高分子中的常見應用：
（1）觀察高聚物的形態(tài)和結構；
（2）觀察結晶高聚物的晶態(tài)結構；
（3）研究材料共混相容性；
（4）觀察高分子納米材料結構；
（5）表征高分子材料的降解性；
（6）研究高分子材料的生物相容性；
（7）研究多孔材料表面或斷面的孔特征。
和光學顯微鏡及透射電鏡相比，掃描電鏡具有以下特點：
(1)能夠直接觀察樣品表面的結構，樣品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。
(2) 樣品制備過程簡單，不用切成薄片。
(3) 樣品可以在樣品室中作三度空間的平移和旋轉，因此，可以從各種角度對樣品進行觀察。
(4) 景深大，圖象富有立體感。掃描電鏡的景深較光學顯微鏡大幾百倍，比透射電鏡大幾十倍。
(5) 圖象的放大范圍廣，分辨率也比較高。可放大十幾倍到幾十萬倍，它基本上包括了從放大鏡、光學顯微鏡直到透射電鏡的放大范圍。分辨率介于光學顯微鏡與透射電鏡之間，可達3nm。
(6) 電子束對樣品的損傷與污染程度較小。
(7) 在觀察形貌的同時，還可利用從樣品發(fā)出的其他信號作微區(qū)成分分析。
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