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臺(tái)式掃描電鏡(DesktopScanningElectronMicroscope,DesktopSEM)相較于傳統(tǒng)大型SEM，臺(tái)式掃描電鏡具有體積小巧、操作簡(jiǎn)便、價(jià)格便宜、快速抽真空、不用噴金測(cè)量不導(dǎo)電樣品等優(yōu)勢(shì)，而且它的放大倍數(shù)可高達(dá)130,000倍。此類新型儀器的出現(xiàn)填補(bǔ)了光學(xué)顯微鏡與傳統(tǒng)大型掃描電子顯微鏡之間的空白區(qū)域，可廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米顆粒、生物醫(yī)學(xué)、食品藥品、紡織纖維、地質(zhì)科學(xué)等諸多領(lǐng)域。臺(tái)式掃描電鏡的工作原理和優(yōu)點(diǎn)：成像系統(tǒng)和電子束系統(tǒng)均內(nèi)置在真空柱中，真...

低溫環(huán)境XRD的分析中，定量分析軸承和內(nèi)燃機(jī)噴射器部件中的殘余奧氏體；檢測(cè)輸片惰性輪中的殘余應(yīng)力；檢測(cè)汽車發(fā)動(dòng)機(jī)部件的殘余應(yīng)力(凸輪軸、連桿、發(fā)動(dòng)機(jī)軸、均衡器)；檢測(cè)由于全同火引起的殘余應(yīng)力(家用電器、結(jié)構(gòu)部件)；檢測(cè)氣體傳導(dǎo)時(shí)所存在的工作壓力；檢測(cè)大幅度拉伸結(jié)構(gòu)件中的工作應(yīng)力；通過(guò)檢測(cè)應(yīng)力來(lái)測(cè)量工件噴丸和軋制的效率；檢測(cè)鑄件的殘余應(yīng)力(機(jī)械工具鑄鐵件和汽車鑄鋁部件)；檢測(cè)焊接引起的應(yīng)力(激光和電焊)；研亢鋁合金汽車輪廓中的殘余應(yīng)力和應(yīng)力阻抗的笑系：優(yōu)化切削去除的工作參數(shù)以提...

日本電子電鏡是一個(gè)復(fù)雜的系統(tǒng)，濃縮了電子光學(xué)技術(shù)、真空技術(shù)、精細(xì)機(jī)械結(jié)構(gòu)以及現(xiàn)代計(jì)算機(jī)控制技術(shù)。成像是采用二次電子或背散射電子等工作方式，隨著掃描電鏡的發(fā)展和應(yīng)用的拓展，相繼發(fā)展了宏觀斷口學(xué)和顯微斷口學(xué)。是在加速高壓作用下將電子槍發(fā)射的電子經(jīng)過(guò)多級(jí)電磁透鏡匯集成細(xì)小(直徑一般為1~5nm)的電子束(相應(yīng)束流為101-1012A)。在末級(jí)透鏡上方掃描線圈的作用下，使電子束在試樣表面做光柵掃描(行掃+幀掃)。入射電子與試樣相互作用會(huì)產(chǎn)生二次電子、背散射電子、X射線等各種信息。這些...

高溫環(huán)境XRD是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí)，該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象，物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生*的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無(wú)污染、快捷、測(cè)量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。高溫環(huán)境XRD的原理：x射線的波長(zhǎng)和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時(shí)，受到物體中原子的散射，每個(gè)原子都產(chǎn)生散射波，這...

SEM掃描電鏡是一種用于放大并觀察物體表面結(jié)構(gòu)的電子光學(xué)儀器。掃描電鏡由鏡筒、電子信號(hào)的收集和處理系統(tǒng)、電子信號(hào)的顯示和記錄系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和電源系統(tǒng)等組成，具有放大倍數(shù)可調(diào)范圍寬、圖像分辨率高和景深大等特點(diǎn)。應(yīng)用于生物、醫(yī)學(xué)、材料和化學(xué)等領(lǐng)域。SEM掃描電鏡在使用時(shí)應(yīng)需要以下事項(xiàng)：1、將試樣置于載物臺(tái)墊片，調(diào)整粗/微調(diào)旋鈕進(jìn)行調(diào)焦，直到觀察到的圖像清晰為止；2、調(diào)整載物臺(tái)位置，找到要觀察的視野，進(jìn)行分析；3、掃描電鏡調(diào)焦時(shí)注意不要使物鏡碰到試樣，以免劃傷物鏡；4、當(dāng)載物臺(tái)墊片...

X射線衍射儀XRD是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí)，該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象，物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生*的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無(wú)污染、快捷、測(cè)量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。因此，X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法，已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用。X射線衍射儀XRD的形式多種多樣，用途各異，但其基本構(gòu)成很相似，為衍射...

臺(tái)式掃描電子顯微鏡具有由三極電子槍發(fā)出的電子束經(jīng)柵極靜電聚焦后成為直徑為50mm的電光源。在2-30KV的加速電壓下，經(jīng)過(guò)2-3個(gè)電磁透鏡所組成的電子光學(xué)系統(tǒng)，電子束會(huì)聚成孔徑角較小，束斑為5-10nm的電子束，并在試樣表面聚焦。末級(jí)透鏡上邊裝有掃描線圈，在它的作用下，電子束在試樣表面掃描。高能電子束與樣品物質(zhì)相互作用產(chǎn)生二次電子，背反射電子，X射線等信號(hào)。這些信號(hào)分別被不同的接收器接收，經(jīng)放大后用來(lái)調(diào)制熒光屏的亮度。由于經(jīng)過(guò)掃描線圈上的電流與顯像管相應(yīng)偏轉(zhuǎn)線圈上的電流同步，...